The certification of 100 mm diameter silicon resistivity SRMs 2541 through 2547 using dual-configuration four-point probe measurements
- Författare
- M. C. Croarkin J. R. Ehrstein
- (J.R. Ehrstein and M.C. Croarkin.)
- Genre
- Ej skönlitteratur
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| 1997 | USA | 84 sidor. |